ACCRETECH东京精密测针

1 超高精度与纳米级分辨率

以轮廓测针 DM45505 为例，全程测量分辨率可达 0.04 μm，测针尖端 R0.025 mm 超精密圆锥设计，保证亚微米级轮廓复现能力 。

2 多场景互换式结构

同一测臂平台可快速更换不同形状/材质的测针：如金刚石 2 μmR 尖端用于粗糙度测量，超硬合金 25 μmR 用于轮廓扫描；支持向下测量、深槽/O 形环槽底等难测部位 。

3 低测力 & 高耐磨

标准测力 3–30 mN 可调，金刚石或钨钢尖端经镜面抛光，接触直径 <1 μm，既减少对软质表面的划伤，又延长使用寿命 。

4 宽谱系兼容

测针型号覆盖 SURFCOM、CONTOURECORD、FLEX、TOUCH、SURFCOM NEX 等全系列粗糙度·轮廓仪，用户无需改造主机即可升级测量能力 。

5 严苛环境稳定工作

工作温度 30 标定，抗振动结构设计，配合 ACCRETECH 自有的高刚性测臂，可在生产车间现场长期保持示值漂移 <0.1 μm/24 h 。

综上，ACCRETECH 测针以“纳米精度、快速互换、低测力、高兼容、现场稳定”五大核心特点，成为半导体、精密模具、汽车、航空航天等行业表面质量管控的首选工具。