LED芯片发射率测试

深圳市乐峰达科技有限公司

2026-07-02 00:05:38

深圳市乐峰达科技有限公司

法人:黄雄飞通过真实性核验

深圳市乐峰达科技有限公司，2023年成立于广东省深圳市，主营电子元器件、芯片等，产品多样，权威可靠。

介绍：

本文详细介绍了LED芯片发射率的三种主流测试方法，包括积分球光谱分析法、辐射通量比较法和近场光学分布测量法，并分析了影响测试准确性的关键因素，帮助读者系统掌握这一技术要点。

一、积分球光谱分析法

LED芯片发射率测试的经典方法，原理就像把LED关进一个白色球体实验室：

注意要点：需定期用标准光源校准积分球内壁涂层反射率，测试环境温度建议控制在25±1℃。

这个方法相当于给LED找了一个"光能量秤"：

特别适合产线快速检测，但标准LED需要每半年重新标定。

像给LED做CT扫描的精密检测技术：

需要配合热台使用，因为芯片温度每升高10℃，发射率会降低约2%。

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