透射电镜与扫描电镜区分指南

思耐达精密仪器(上海)有限公司

2026-07-06 17:20:14

思耐达精密仪器(上海)有限公司

法人:李斌鑫通过深度核验

思耐达精密仪器（上海）有限公司，2021年成立于上海嘉定，主营多种光学测量仪器，专业权威，服务高精行业经验丰富。

介绍：

本文解析透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的核心差异，包括工作原理、样品制备、成像特点和应用场景，帮助读者快速掌握两种电镜技术的选择要点。

一、工作原理：穿透VS扫描

透射电镜（TEM）像X光机，电子束穿透超薄样品后成像，适合观察内部结构；扫描电镜（SEM）则像探照灯，电子束在样品表面扫描，通过反射信号构建3D形貌。关键区别：

TEM样品需特殊处理：

SEM则简单得多：

TEM主攻微观世界：

SEM擅长宏观观察：

小技巧：需要看原子选TEM，要看表面起伏选SEM。

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