寻源宝典光刻机中paris与tis区别
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杭州宏恩光电有限公司
杭州宏恩光电,2009年成立于杭州上城区,专营泵、光刻机、钻床等,经验丰富,专业权威,业务广泛,品质可靠。
介绍:
本文解析光刻机中PARIS(投影对准实时成像系统)和TIS(透过率干涉测量系统)的核心差异,从工作原理、应用场景到精度要求,帮助读者理解两种关键子系统在芯片制造中的不同角色。
一、基础定位差异
PARIS(Projection Alignment Real-time Imaging System)和TIS(Transmission Interference System)就像光刻机的左右手:
PARIS:实时监控掩膜版与硅片的对准情况,如同手术中的无影灯,确保每次曝光前位置误差小于3纳米
TIS:专注测量光学系统透过率,像精密的血糖仪,监测镜片污染或老化导致的能量损耗,灵敏度达0.1%
二、技术实现对比
两种系统采用截然不同的物理原理:
PARIS工作原理
利用多波长干涉光生成对准标记图像
通过CCD相机捕捉位移信号
闭环反馈调整载物台位置
TIS测量方式
分光镜将激光分为参考光与测量光
比较两路光的相位差计算透过率
实时绘制光学系统效能曲线
三、应用场景区分
优先使用PARIS的场景:
新产品首片验证
设备维护后校准
高精度多层套刻
TIS更关键的场合:
连续生产中的稳定性监控
镜组清洁周期判定
光源衰减预警
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