扫描电镜与原子力显微镜区别

翌颖科技(上海)有限公司

2026-06-15 11:21:28

翌颖科技(上海)有限公司

法人:李扬通过真实性核验

翌颖科技（上海）有限公司，2014年成立于上海市，主营台阶仪、椭偏仪等，专业权威，经验丰富。

介绍：

本文对比扫描电镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）的核心差异，从工作原理、适用场景到分辨率与样品要求，帮助科研人员根据需求选择合适的微观观测工具。

一、工作原理的物理差异

扫描电镜就像给样品拍X光片：用电子束轰击表面，通过二次电子成像，能呈现微米级的三维形貌。而原子力显微镜更像盲人摸象——探针在样品表面逐点扫描，通过测量原子间作用力变化，绘制出纳米级表面起伏。前者看整体轮廓，后者摸细微沟壑。

SEM需要导电样品或喷金处理，真空环境下工作，对生物样本可能造成损伤。AFM则宽容得多：可在空气甚至液体中操作，适合活体细胞观察，但过软的样品可能导致探针图像失真。两者恰似「刚柔并济」的互补组合。

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