芯片覆盖率分类

一、逻辑覆盖率：代码的体检报告

芯片设计中的逻辑覆盖率就像程序员给代码做全面体检，重点关注是否所有条件分支都被测试到。常见类型包括：

1. 语句覆盖：每行代码是否至少执行一次

2. 分支覆盖：if-else等条件判断是否均被触发

3. 路径覆盖：所有可能的执行路径组合是否验证

二、功能覆盖率：用户视角的验收单

从终端应用角度验证芯片是否达标，好比检查汽车能否完成加速、转弯等基本动作：

1. 接口覆盖：所有输入输出端口是否正常通信

2. 状态机覆盖：芯片工作状态是否全部遍历

3. 异常覆盖：错误处理机制是否有效触发

三、物理覆盖率：硅片的显微镜检查

聚焦芯片制造后的实际结构验证，如同用放大镜查看电路印刷效果：

1. 缺陷覆盖：识别晶圆上的物理瑕疵点分布

2. 金属层覆盖：检查各层电路连接完整性

3. 接触孔覆盖：确保微米级连接点无断路

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