激光干涉仪测垂直

思耐达精密仪器(上海)有限公司

2026-08-20 14:05:51

法人:李斌鑫通过深度核验

思耐达精密仪器（上海）有限公司，2021年成立于上海嘉定，主营多种光学测量仪器，专业权威，服务高精行业经验丰富。

导读：

激光干涉仪能否测量垂直方向是工业检测中的常见疑问。本文解析其测量原理、垂直测量实现方式及典型应用场景，帮助读者全面了解这一精密测量技术。

一、激光干涉仪的基本原理

激光干涉仪就像光学界的‘尺子’，通过激光干涉条纹变化来测量微小位移。其核心是迈克尔逊干涉原理：将激光束分光后，通过反射镜反射重新汇合形成干涉图案。当被测物体移动时，干涉条纹会相应移动，通过计算条纹变化量就能得出位移数据，精度可达纳米级。

要让这把‘光尺’测量垂直方向，关键在于光学组件配置：

这种垂直测量能力在工业领域大显身手：

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